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光電測量的形成與溫度測量的多樣性有關(guān)，測量溫度的方法可分為兩類：
1、接觸式測溫：這類測溫方法是將測溫儀表的敏感元件與被測對(duì)象接觸，以達(dá)到充分的熱交換而至熱平衡來完成溫度測量的。因此這種測量比較直觀、可靠，測量儀表也相對(duì)簡單。但由于敏感元件必須和被測對(duì)象接觸，在接觸過程中可能破壞被測對(duì)象的溫場分布，從而造成測量誤差。有的測溫元件不能和被測對(duì)象充分接觸，不能達(dá)到充分的熱平衡，使測溫元件和被測對(duì)象溫度不一致，也會(huì)帶來誤差。在接觸過程中，有的介質(zhì)有強(qiáng)烈的腐蝕性，特別是在高溫時(shí)對(duì)測溫元件的影響更大，從而不能保證測溫元件的可靠性和工作壽命。這些均是接觸式測溫方法的缺點(diǎn)。
目前應(yīng)用較廣的接觸式測溫儀表有：電阻溫度開關(guān)、熱電偶溫度開關(guān)、其他原理的開關(guān)。
非接觸式測溫：可分為超低溫、低溫、中高溫和超高溫溫度測量。超低溫一般指0~10k，低溫指1~800k，中溫指500~1600°C，高溫指1600~2500°C，2500°c以上被認(rèn)為是超高溫。
對(duì)超低溫測量，現(xiàn)有方法都只能用于該范圍內(nèi)的個(gè)別小區(qū)間段上。例如，低于1k的溫度采用磁性光電開關(guān)傳感器，高于4k的溫度可用熱噪聲光電開關(guān)傳感器。低溫測量的特殊問題在于高溫元件對(duì)被測溫度場的影響，故不宜用熱容量大的感溫元件測低溫。對(duì)于中高溫，需防止有害介質(zhì)的化學(xué)作用和熱輻射對(duì)感溫元件的影響，一般可用陶瓷外套，測更高溫度時(shí)用難熔材料外套并充以惰性氣體。在超高溫下，物質(zhì)處于等離子體狀態(tài)，不同粒子的能量對(duì)應(yīng)的溫度不同，且可能相差較大，變化規(guī)律也不同。因此，對(duì)超高溫的測量應(yīng)根據(jù)不同情況使用亮度溫度計(jì)和比色溫度計(jì)。 |
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